1.样品尺寸不超过100*100*50mm；

2.制样使表征面平整光滑，在200倍光镜下没有明显的划痕，且至少有一对平行面；

3.测试费用按具体测试时长收取。

电子探针显微镜（EPMA）又称微区X射线光谱分析仪、X射线显微分析仪。其原理是利用聚焦的高能电子束轰击固体表面，使被轰击的元素激发出特征X射线，按其波长及强度对固体表面微区进行定性及定量化学分析。主要用来分析固体物质表面的细小颗粒或微小区域，最小范围直径为1μm左右。 一般从铍(Be4 )——铀(Ｕ92)。因为H和He原子只有K 层电子， 不能产生特征X 射线， 所以无法进行电子探针成分分析。锂(Li) 虽然能产生X 射线， 但产生的特征X 射线波长太长， 通常无法进行检测， 电子探针用大面间距的皂化膜作为衍射晶体已经可以检测Be元素,广泛应用于地质、冶金、水泥、材料等领域。