1.仅适用于有机薄膜，厚度范围：2-500nm；

2.对于平整均匀薄膜，断层光谱的垂直空间分辨率优于2nm；对于不均匀薄膜，分辨率会下降；

3.吸收光谱和反射光谱均可测试；

4.若器件为半透明，可直接准备不覆盖无基层的“半器件”用于测试，例如您关心的器件为ITO/PEDOT/Active layer/PDINO/Ag，可提供ITO/PEDOT/Active layer/PDINO进行测试；如器件是不透明的，请提供透明基底制备的薄膜进行测试；

5.样品平面尺寸：大于0.5平方厘米。